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Pineda De Gyvez Jose

2 résultats

A propos de «Meilleures ventes»
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory And Computational Models

Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory And Computational Models

- Pineda de Gyvez, José / Livres en langue étrangère
  • Format: Broché
Neuf à 135,08 €

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Defect-Oriented Testing For Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits

Defect-Oriented Testing For Nano-Metric Cmos Vlsi Circuits

- Pineda de Gyvez, José / Livres en langue étrangère
  • Format: Relié
Occasion dès 50,99 €

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