High-Resolution Electron Microscopy - John C H Spence
- Format: Broché Voir le descriptif
Vous en avez un à vendre ?
Vendez-le-vôtre66,74 €
Occasion · Bon État
Ou 16,69 € /mois
- Livraison : 25,00 €
- Livré entre le 18 et le 23 mai
Apres acceptation de la commande, le delai moyen d'expedition depuis le Japon est de 48 heures. Le delai moyen de livraison est de 3 a 4 semaines. En cas de circonstances exceptionnelles, les delais peuvent s'etendre jusqu'à 2 mois.
- Payez directement sur Rakuten (CB, PayPal, 4xCB...)
- Récupérez le produit directement chez le vendeur
- Rakuten vous rembourse en cas de problème
Gratuit et sans engagement
Félicitations !
Nous sommes heureux de vous compter parmi nos membres du Club Rakuten !
TROUVER UN MAGASIN
Retour
Avis sur High - Resolution Electron Microscopy de John C H Spence Format Broché - Livre
0 avis sur High - Resolution Electron Microscopy de John C H Spence Format Broché - Livre
Les avis publiés font l'objet d'un contrôle automatisé de Rakuten.
Présentation High - Resolution Electron Microscopy de John C H Spence Format Broché
- Livre
Résumé :
This book describes how to see atoms using electron microscopes. This new edition includes updated sections on applications and new uses of atomic-resolution transmission electron microscopy. Several new chapters and sources of software for image interpretation and electron-optical design have also been added.
Biographie:
John Spence is a Fellow of the American Physical Society and of the Institute of physics, a recent co-editor of Acta Crystallographica and serves on the editorial board of Reports on Progress in Physics. He also serves on the Scientific Advisory Committee of the Molecular Foundary and the Advanced Light Source at the Lawrence Berkeley Laboratory. He is a member of the International Union of Crystallography's Commission on Electron Diffraction, and winner of the Burton award of the Microscopy Society of America....
Sommaire:
Preface ; Acknowledgements ; List of Symbols ; 1. Preliminaries ; 2. Electron Optics ; 3. Wave Optics ; 4. Coherence and Fourier Optics ; 5. High-Resolution Images of Crystals and their Defects ; 6. HREM in Biology, Organic Crystals and Radiation Damage ; 7. Image Processing and Superresolution Schemes ; 8. Stem and Z-Contrast ; 9. Electron Sources and Detectors ; 10. Measurement of Electron-optical Parameters Affecting High-Resolution Images ; 11. Instabilities and the Microscope Environment ; 12. Experimental Methods ; 13. Associated Techniques ; Appendix 1 ; Appendix 2 ; Appendix 3 ; Appendix 4 ; Appendix 5
