Scanning Electron Microscopy - Physics Of Image Formation And Microanalysis, 2nd Edition de Ludwig Reimer Format Relié

Scanning Electron Microscopy - Physics Of Image Formation And Microanalysis, 2nd Edition - Ludwig Reimer

Collection: Optical Sciences
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Livre Physique - Chimie - Ludwig Reimer - 18/12/1998 - Relié

Auteur(s) : Ludwig Reimer

Editeur : Springer Verlag

Collection : Optical Sciences

Parution : 18/12/1998

Nombre de pages : 527

Nombre de livres : 1

Expédition : 885

Dimensions : 24.20 x 16.10 x 2.60

ISBN : 3540639764

Résumé :
This book provides a description of the physics of electron-probe formation and of electron-specimen interactions. The different imaging and analytical modes using secondary and backscattered electrons, electron-beam-induced currents, X-ray and Auger electrons, electron channeling effects and cathodoluminescence are discussed to evaluate specific contrasts and to obtain quantitative information.

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