Personnaliser

OK

Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces - Chia-Wei Chen

Note : 0

0 avis
  • Soyez le premier à donner un avis

Vous en avez un à vendre ?

Vendez-le-vôtre

60,45 €

Produit Neuf

  • Ou 15,11 € /mois

    • En savoir plus
    • Livraison : 3,99 €
    • Livré entre le 4 et le 9 mai
    Voir les modes de livraison

    M_plus_L

    PRO Vendeur favori

    4,8/5 sur + de 1 000 ventes

    Publicité
     
    Vous avez choisi le retrait chez le vendeur à
    • Payez directement sur Rakuten (CB, PayPal, 4xCB...)
    • Récupérez le produit directement chez le vendeur
    • Rakuten vous rembourse en cas de problème
    Terminer ma commande

    Gratuit et sans engagement

    Félicitations !

    Nous sommes heureux de vous compter parmi nos membres du Club Rakuten !

    En savoir plus

    TROUVER UN MAGASIN

      Retour

      Horaires

          Note :


          Avis sur Retroreflex Ellipsometry For Nonplanar Surfaces de Chia - Wei Chen Format Broché  - Livre

          Note : 0 0 avis sur Retroreflex Ellipsometry For Nonplanar Surfaces de Chia - Wei Chen Format Broché  - Livre

          Les avis publiés font l'objet d'un contrôle automatisé de Rakuten.


          Présentation Retroreflex Ellipsometry For Nonplanar Surfaces de Chia - Wei Chen Format Broché

           - Livre

          Livre - Chia-Wei Chen - 01/04/2025 - Broché - Langue : Anglais

          . .

        • Auteur(s) : Chia-Wei Chen
        • Editeur : Karlsruher Institut Für Technologie (Kit)
        • Langue : Anglais
        • Parution : 01/04/2025
        • Format : Moyen, de 350g à 1kg
        • Nombre de pages : 210.0
        • ISBN : 9783731514022



          • Résumé :
          Retroreflex ellipsometry addresses the geometric restrictions of conventional ellipsometry by using a retroreflective sheet, which returns the light beam from the sample on the same beam path. Simulation and experiments of retroreflex ellipsometry in two- and three-phase systems have been demonstrated based on the proposed concepts, which have shown the capabilities of ellipsometric measurements on nonplanar surfaces....