Advances in Imaging and Electron Physics -

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Présentation Advances In Imaging And Electron Physics Format Relié
- Livre Encyclopédies, Dictionnaires

Livre Encyclopédies, Dictionnaires - 01/08/2022 - Relié - Langue : Anglais

Editeur : Elsevier Inc

Langue : Anglais

Parution : 01/08/2022

Format : Moyen, de 350g à 1kg

Nombre de pages : 266.0

ISBN : 0323988636

Résumé :
Advances in Imaging and Electron Physics, Volume 224 highlights new advances in the field, with this new volume presenting interesting chapters on Measuring elastic deformation and orientation gradients by scanning electron microscopy - conventional, new and emerging methods, Development of an alternative global method with high angular resolution, Implementing the new global method, Numerical validation of the method and influence of optical distortions, and Applications of the method....

Biographie:

Preface
Martin H?tch and Peter W. Hawkes
1. Measuring elastic strains and orientation gradients by scanning electron microscopy: Conventional and emerging methods
Cl?ment Ernould, Beno?t Beausir, Jean-Jacques Fundenberger, Vincent Taupin and Emmanuel Bouzy
2. Development of a global homography-based approach for high-angular resolution in the SEM
Cl?ment Ernould, Beno?t Beausir, Jean-Jacques Fundenberger, Vincent Taupin and Emmanuel Bouzy
3. Implementing the homography-based global approach
Cl?ment Ernould, Beno?t Beausir, Jean-Jacques Fundenberger, Vincent Taupin and Emmanuel Bouzy
4. Numerical validation and influence of optical distorsions on accuracy
Cl?ment Ernould, Beno?t Beausir, Jean-Jacques Fundenberger, Vincent Taupin and Emmanuel Bouzy
5. Applications of the method
Cl?ment Ernould, Beno?t Beausir, Jean-Jacques Fundenberger,Vincent Taupin and Emmanuel Bouzy
6. Spin wave physics: The nonlinear spin wave-electromagnetic interaction and implications for high frequency devices
Clifford M. Krowne

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Sommaire:

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