Foundations Of Measurement Volume Ii de Amos Tversky Format Broché

Foundations of Measurement Volume II - Amos Tversky

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Présentation Foundations Of Measurement Volume Ii de Amos Tversky Format Broché
- Livre

Livre - Amos Tversky - 01/12/2006 - Broché - Langue : Anglais

Auteur(s) : Amos Tversky - David H Krantz - Patrick Suppes - R Duncan Luce

Editeur : Dover Publications

Langue : Anglais

Parution : 01/12/2006

Format : Moyen, de 350g à 1kg

Nombre de pages : 512

Expédition : 513

Dimensions : 21.5 x 16.1 x 2.7

ISBN : 9780486453156

Résumé :
A classic series in the field of quantitative measurement, Volume I introduces the distinct mathematical results that serve to formulate numerical representations of qualitative structures. Volume II extends the subject in the direction of geometrical, threshold, and probabilistic representations, and Volume III examines representation as expressed in axiomatization and invariance. 1989 edition.

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