Neutron and X-ray Reflectometry - Basu, Saibal

Format: Relié

Note : 0

Soyez le premier à donner un avis

300,06 €

Produit Neuf

Ou 75,02 € /mois

Livraison à 0,01 €

Voir les modes de livraison

PRO Vendeur favori

4,8/5 sur + de 1 000 ventes

Expédition rapide et soignée depuis l`Angleterre - Délai de livraison: entre 10 et 20 jours ouvrés.

Voir le détail de l'annonce

Vous avez choisi le retrait chez le vendeur à

Payez directement sur Rakuten (CB, PayPal, 4xCB...)
Récupérez le produit directement chez le vendeur
Rakuten vous rembourse en cas de problème

Terminer ma commande

Gratuit et sans engagement

Félicitations !

Nous sommes heureux de vous compter parmi nos membres du Club Rakuten !

TROUVER UN MAGASIN

Adresse

Retour

Horaires

Note :

Avis sur Neutron And X - Ray Reflectometry de Basu, Saibal Format Relié - Livre Littérature Générale

Note : 0 0 avis sur Neutron And X - Ray Reflectometry de Basu, Saibal Format Relié - Livre Littérature Générale

Donnez votre avis

Donnez votre avis sur ce produit

Votre note * : 1/5 2/5 3/5 4/5 5/5 Veuillez donner une note au produit

Le titre de votre avis* : Saisissez un titre

Quelques conseils :

Donnez le ton de votre avis, résumez-le en quelques mots qui apparaîtront comme le titre de votre avis.

Votre avis* : (40 caractères minimum) Saisissez un avis

Quelques conseils :

N'hésitez pas à mettre en avant les caractéristiques de ce produit, n'oubliez pas de mentionner ses avantages et/ou ses défauts éventuels. Décrivez précisément, argumentez, soyez convaincant !

Annuler

Les avis publiés font l'objet d'un contrôle automatisé de Rakuten.

Produits similaires

Présentation Neutron And X - Ray Reflectometry de Basu, Saibal Format Relié
- Livre Littérature Générale

Livre Littérature Générale - Basu, Saibal - 01/12/2022 - Relié - Langue : Anglais

Auteur(s) : Basu, Saibal - Singh, Surendra

Editeur : Iop Publishing Ltd

Langue : Anglais

Parution : 01/12/2022

Format : Moyen, de 350g à 1kg

Nombre de pages : 200

Expédition : 535

Dimensions : 25.4 x 17.8 x 1.1

ISBN : 0750346930

Résumé :

The field of ultra-thin films, a subgroup of nanomaterials, has seen an upsurge in research within the last 30 years. Studies have primarily been done using neutron and x-ray reflectometry. The technique of polarized neutron reflectometry or PNR is a unique non-destructive tool to understand thin film magnetism in mesoscopic length scale.

This book presents x-ray and neutron reflectometry techniques and how they can be used to explore interface structure and magnetism at mesoscopic length scale in thin films and multilayers. The text covers the basic principles of neutron and x-ray reflectivity and different mode of neutron reflectivity with many useful examples. The reference text is helpful for research students working in the field of interface magnetism in thin film and multilayers.

Key Features:

Introduces the reader to the field of reflectometry, especially polarized neutron reflectometry and x-ray reflectometry.

Familiarizes researchers with the importance of interface properties in thin films.

Demonstrates with examples how properties can be determined with sub nanometre resolution.

Provides a summary with a large number of contemporary examples and references.

...

Détails de conformité du produit

Consulter les détails de conformité de ce produit (

Personne responsable dans l'UE

)

Neutron and X-ray Reflectometry - Basu, Saibal

Avis sur Neutron And X - Ray Reflectometry de Basu, Saibal Format Relié - Livre Littérature Générale

Présentation Neutron And X - Ray Reflectometry de Basu, Saibal Format Relié - Livre Littérature Générale

Présentation Neutron And X - Ray Reflectometry de Basu, Saibal Format Relié
- Livre Littérature Générale