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Avis sur Defects In Microelectronic Materials And Devices de Daniel M. Fleetwood Format Relié - Livre

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Livre - Daniel M. Fleetwood - 01/11/2008 - Relié - Langue : Anglais

Auteur(s) : Daniel M. Fleetwood

Editeur : Crc Press

Langue : Anglais

Parution : 01/11/2008

Format : Moyen, de 350g à 1kg

Nombre de pages : 770

Expédition : 1507

Dimensions : 26.7 x 18.7 x 4.1

ISBN : 1420043765

Résumé :
Focusing primarily on silicon-based microelectronics, Defects in Microelectronic Materials and Devices provides a comprehensive overview of recent progress made in understanding the effects of electrically active defects in microelectronic materials. The book places particular emphasis on defects that limit device quality, reliability, manufacturability, and radiation response. Notable theorists and researchers present their perspectives on defects in insulators and in semiconductors as well as hydrogen and defect-related failure mechanisms. The text also discusses compound semiconductor materials for microelectronic applications and examines new information garnered from physics and engineering models.

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Defects in Microelectronic Materials and Devices - Daniel M. Fleetwood

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