$X-Ray Diffraction Imaging de Format Broché$

X-Ray Diffraction Imaging -

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Présentation X - Ray Diffraction Imaging de Format Broché
- Livre Technologie

Livre Technologie - 01/06/2021 - Broché - Langue : Anglais

Editeur : Crc Press

Langue : Anglais

Parution : 01/06/2021

Format : Moyen, de 350g à 1kg

Nombre de pages : 278

Expédition : 395

Dimensions : 23.4 x 15.6 x 1.5

ISBN : 1032094273

Résumé :
Coherent scattering mechanism forms a basis of the x-ray diffraction imaging that is a subject of this book. The x-ray diffraction technology and its various applications in medical, industrial and security fields are also covered.

Biographie:

Joel A. Greenberg received his B.S.E. in Mechanical and Aerospace Engineering from Princeton University in 2005, and his Ph.D. in physics from Duke University in 2012. He then joined the Duke Imaging and Spectroscopy Program in 2012 as a research scientist and technical/project manager of the computational adaptive X-ray imaging (CAXI) program. Since 2014, Joel has been an Assistant Research Professor of Electrical and Computer Engineering at Duke University and a member of the Fitzpatrick Institute for Photonics. He has published over 30 papers in the areas of nonlinear optics, cold atom physics, compressed sensing and X-ray imaging. His current research focuses on computational sensing and its application to security, medical, and industrial imaging and detection.

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