Digital Integrated Circuit Testing From A Quality Perspective Format Non Precisé

Digital Integrated Circuit Testing From A Quality Perspective - Eugene R. Hnatek

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Livre Physique - Chimie - Eugene R. Hnatek - 01/01/1993 - Non Precisé - Langue : Anglais

Auteur(s) : Eugene R. Hnatek

Editeur : Kluwer Academic Publishers Group

Langue : Anglais

Parution : 01/01/1993

Format : Moyen, de 350g à 1kg

Expédition : 455

ISBN : 0442006438

Sommaire:
Applies the methods of modern quality to the testing of digital integrated circuits. Explains new paradigms and techniques ranging from SSI to high-level VLSI, and how to match testing methods to the design and physical layout of the device. Accounts for the change in the electronics industry from a...

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