Analog Signal Generation For Built-In-Self-Test Of Mixed-Signal Integrated Circuits Format Relié

Analog Signal Generation for Built-In-Self-Test of Mixed-Signal Integrated Circuits - Lu, Albert K.

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Livre Littérature Générale - Lu, Albert K. - 01/04/1995 - Relié - Langue : Anglais

Auteur(s) : Lu, Albert K. - Roberts, Gordon W.

Editeur : Springer Us, New York, N.Y.

Langue : Anglais

Parution : 01/04/1995

Format : Moyen, de 350g à 1kg

Nombre de pages : 136.0

Expédition : 374

ISBN : 0792395646

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Analog Signal Generation for Built-In-Self-Test of Mixed-Signal Integrated Circuits - Lu, Albert K.

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