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Editeur : Springer Us, New York, N.Y.

Langue : Anglais

Parution : 01/08/2004

Format : Moyen, de 350g à 1kg

Nombre de pages : 408.0

Nombre de livres : 1

Expédition : 1850

ISBN : 9780387400921

Résumé :
1 Elements for Designing an X-Ray Diffraction Experiment.- 2 Diffractometers and Reflectometers.- 3 Scans and Resolution in Angular and Reciprocal Space.- 4 Basic Principles.- 5 Kinematical Theory.- 6 Dynamical Theory.- 7 Semikinematical Theory.- 8 Determination of Layer Thicknesses of Single Layers and Multilayers.- 9 Lattice Parameters and Strains in Epitaxial Layers and Multilayers.- 10 Diffuse Scattering From Volume Defects in Thin Layers.- 11 X-Ray Scattering by Rough Multilayers.- 12 X-Ray Scattering by Artificially Lateral Semiconductor Nanostructures.- 13 Strain Analysis in Periodic Nanostructures.- 14 X-Ray Scattering from Self-Organized Structures.- References....

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