Thin Film Analysis By X-Ray Scattering de Birkholz Mario

Thin Film Analysis By X-Ray Scattering - Birkholz Mario

Format: Non Precisé

Note : 0

Soyez le premier à donner un avis

Vous en avez un à vendre ?

Vendez-le-vôtre

Filtrer par :

Prix neuf 147,10 €

Qu'est-ce que le prix barré ?

C'est le prix de vente au public, fixé par l'éditeur ou l'importateur, pour le même article neuf.

99,54 €

Occasion · Bon État

Ou 24,89 € /mois

Livraison : 25,00 €
Livré entre le 13 et le 18 juin

Voir les modes de livraison

PRO Vendeur favori

4,8/5 sur + de 1 000 ventes

Apres acceptation de la commande, le delai moyen d'expedition depuis le Japon est de 48 heures. Le delai moyen de livraison est de 3 a 4 semaines. En cas de circonstances exceptionnelles, les delais peuvent s'etendre jusqu'à 2 mois.

Voir le détail de l'annonce

Nos autres offres

186,32 €

Produit Neuf

Ou 46,58 € /mois

En savoir plus
- Livraison à 0,01 €
- Livré entre le 30 mai et le 8 juin
Voir les modes de livraison
RiaChristie

PRO

4,9/5 sur + de 1 000 ventes

Contacter le vendeur

Afficher la description de l'annonce

Brand new, In English, Fast shipping from London, UK; Tout neuf, en anglais, expédition rapide depuis Londres, Royaume-Uni;ria9783527310524_dbm

Voir le détail de l'annonce

Vous avez choisi le retrait chez le vendeur à

Payez directement sur Rakuten (CB, PayPal, 4xCB...)
Récupérez le produit directement chez le vendeur
Rakuten vous rembourse en cas de problème

Terminer ma commande

Gratuit et sans engagement

Félicitations !

Nous sommes heureux de vous compter parmi nos membres du Club Rakuten !

TROUVER UN MAGASIN

Adresse

Retour

Horaires

Note :

Avis sur Thin Film Analysis By X - Ray Scattering de Birkholz Mario - Livre

Note : 0 0 avis sur Thin Film Analysis By X - Ray Scattering de Birkholz Mario - Livre

Donnez votre avis

Donnez votre avis sur ce produit

Votre note * : 1/5 2/5 3/5 4/5 5/5 Veuillez donner une note au produit

Le titre de votre avis* : Saisissez un titre

Quelques conseils :

Donnez le ton de votre avis, résumez-le en quelques mots qui apparaîtront comme le titre de votre avis.

Votre avis* : (40 caractères minimum) Saisissez un avis

Quelques conseils :

N'hésitez pas à mettre en avant les caractéristiques de ce produit, n'oubliez pas de mentionner ses avantages et/ou ses défauts éventuels. Décrivez précisément, argumentez, soyez convaincant !

Annuler

Les avis publiés font l'objet d'un contrôle automatisé de Rakuten.

Produits similaires

Présentation Thin Film Analysis By X - Ray Scattering de Birkholz Mario
- Livre

Livre - Birkholz Mario - 01/01/2005 - Non Precisé

Auteur(s) : Birkholz Mario

Editeur : Wiley-Vch

Parution : 01/01/2005

Nombre de livres : 1

ISBN : 9783527310524

Détails de conformité du produit

Consulter les détails de conformité de ce produit (

Personne responsable dans l'UE

)

Thin Film Analysis By X-Ray Scattering - Birkholz Mario

Avis sur Thin Film Analysis By X - Ray Scattering de Birkholz Mario - Livre

Présentation Thin Film Analysis By X - Ray Scattering de Birkholz Mario - Livre

Présentation Thin Film Analysis By X - Ray Scattering de Birkholz Mario
- Livre