Personnaliser

OK

Noise in Nanoscale Semiconductor Devices -

Note : 0

0 avis
  • Soyez le premier à donner un avis

Vous en avez un à vendre ?

Vendez-le-vôtre

167,18 €

Produit Neuf

  • Ou 41,80 € /mois

    • Livraison à 0,01 €
    • Livré entre le 5 et le 12 mai
    Voir les modes de livraison

    RiaChristie

    PRO Vendeur favori

    4,9/5 sur + de 1 000 ventes

    Brand new, In English, Fast shipping from London, UK; Tout neuf, en anglais, expédition rapide depuis Londres, Royaume-Uni;ria9783030374990_dbm

    Publicité
     
    Vous avez choisi le retrait chez le vendeur à
    • Payez directement sur Rakuten (CB, PayPal, 4xCB...)
    • Récupérez le produit directement chez le vendeur
    • Rakuten vous rembourse en cas de problème

    Gratuit et sans engagement

    Félicitations !

    Nous sommes heureux de vous compter parmi nos membres du Club Rakuten !

    En savoir plus

    Retour

    Horaires

        Note :


        Avis sur Noise In Nanoscale Semiconductor Devices de Format Relié  - Livre Littérature Générale

        Note : 0 0 avis sur Noise In Nanoscale Semiconductor Devices de Format Relié  - Livre Littérature Générale

        Les avis publiés font l'objet d'un contrôle automatisé de Rakuten.


        Présentation Noise In Nanoscale Semiconductor Devices de Format Relié

         - Livre Littérature Générale

        Livre Littérature Générale - 31/03/2020 - Relié - Langue : Anglais

        . .

      • Editeur : Springer International Publishing Ag
      • Langue : Anglais
      • Parution : 31/03/2020
      • Format : Moyen, de 350g à 1kg
      • Nombre de pages : 736
      • Expédition : 1256
      • Dimensions : 24.1 x 16.0 x 4.5
      • ISBN : 3030374998



      • Résumé :
        This book summarizes the state-of-the-art, regarding noise in nanometer semiconductor devices. Readers will benefit from this leading-edge research, aimed at increasing reliability based on physical microscopic models. Authors discuss the most recent developments in the understanding of point defects, e.g. via ab initio calculations or intricate measurements, which have paved the way to more physics-based noise models which are applicable to a wider range of materials and features, e.g. III-V materials, 2D materials, and multi-state defects. Describes the state-of-the-art, regarding noise in nanometer semiconductor devices...

        Biographie:
        Offers the most up-to-date information on point defects, based on physical microscopic models....

        Sommaire:
        Enables readers to design more reliable semiconductor devices...

        Détails de conformité du produit

        Consulter les détails de conformité de ce produit (

        Personne responsable dans l'UE

        )
        Le choixNeuf et occasion
        Minimum5% remboursés
        La sécuritéSatisfait ou remboursé
        Le service clientsÀ votre écoute
        LinkedinFacebookTwitterInstagramYoutubePinterestTiktok
        visavisa
        mastercardmastercard
        klarnaklarna
        paypalpaypal
        floafloa
        americanexpressamericanexpress
        Rakuten Logo
        • Rakuten Kobo
        • Rakuten TV
        • Rakuten Viber
        • Rakuten Viki
        • Plus de services
        • À propos de Rakuten
        Rakuten.com