An Introduction To Surfaces Analysis By Xps And Aes de Watts John-F Format Broché

An Introduction To Surfaces Analysis By Xps And Aes - Watts John-F

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Livre Physique - Chimie - Watts John-F - 01/04/2003 - Broché

Auteur(s) : Watts John-F

Editeur : Wiley

Parution : 01/04/2003

Nombre de pages : 212

Nombre de livres : 1

Expédition : 400

Dimensions : 23 x 15.2 x 1.5

ISBN : 0470847131

Résumé :
An Introduction to Surface Analysis by XPS and AES is a clear and accessible introduction to the key electron spectroscopic techniques used in surface analysis. Starting with an introduction to the basic concepts of electron spectroscopy, the text moues on to explain underlying physical principles, discusses the instrumentation employed and looks at the interpretation of the resulting spectra. The latest material on angle resolved XPS, surface engineering and complementary methods have been included to provide an up-to-date account of these widely used techniques.

Biographie:
John F Watts is Professor of Adhesion Science in the School of Engineering at the University of Surrey. He currently leads a Research Group applying surface analysis methods to investigations in materials science and is Editor-in-Chief of the Wiley journal Surface and Interface Analysis. John Wolstenholme is Marketing Manager at Thermo VG Scientific. With a background in SIMS, he has been actively involved in XPS and AES for the last twelve years.

Sommaire:
["Electron Spectroscopy : Some Basic Concepts","Electron Spectrometer Design","The Electron Spectrum : Qualitative and Quantitaive Interpretation","Compositional Depth Profiling","Applications of Electron Spectroscopy in Materials Science","Comparison of XPS and AES with Other Analytical Techniques."]

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