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Advanced Tomographic Methods in Materials Research and Engineering [With CDROM] - John Banhart
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Présentation Advanced Tomographic Methods In Materials Research And Engineering [With Cdrom] de John Banhart Format Relié
- Livre
Résumé :
Tomography provides three-dimensional images of materials or engineering components and an unprecedented insight into their internal structure. This book, written for applied physicists, materials scientists and engineers, discusses recent developments in the field, such as the extension of tomographic methods to materials research and engineering.
Biographie:
John Banhart - Editor Professor for Materials Science at Technical University Berlin and Head of the Department of Materials Research at Hahn-Meitner Institute Berlin 1984: Degree in Physics, University of Munich 1989: PhD in Physical Chemistry, University of Munich 1990: Postdoc at University of Vienna 1998: Habilitation (2nd PhD) in Solid State Physics, University of Bremen 1991-2001: Senior Scientist at Fraunhofer-Institute for Materials Research Bremen 2002: Current Position
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