High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Drechsler, Rolf
- Format: Broché Voir le descriptif
Vous en avez un à vendre ?
Vendez-le-vôtre153,91 €
Produit Neuf
Ou 38,48 € /mois
- Livraison à 0,01 €
- Livré entre le 27 juillet et le 8 août
Brand new, In English, Fast shipping from London, UK; Tout neuf, en anglais, expédition rapide depuis Londres, Royaume-Uni;ria9781489988478_dbm
Nos autres offres
-
181,11 €
Produit Neuf
Ou 45,28 € /mois
- Livraison : 3,99 €
- Livré entre le 25 et le 31 juillet
Voir le détail de l'annonce
- Payez directement sur Rakuten (CB, PayPal, 4xCB...)
- Récupérez le produit directement chez le vendeur
- Rakuten vous rembourse en cas de problème
Gratuit et sans engagement
Félicitations !
Nous sommes heureux de vous compter parmi nos membres du Club Rakuten !
TROUVER UN MAGASIN
Retour
Avis sur High Quality Test Pattern Generation And Boolean Satisfiability Format Broché - Livre Littérature Générale
0 avis sur High Quality Test Pattern Generation And Boolean Satisfiability Format Broché - Livre Littérature Générale
Les avis publiés font l'objet d'un contrôle automatisé de Rakuten.
-
Just Enough Software Architecture: A Risk-Driven Approach
Occasion dès 138,99 €
-
St - Tropez Soleil
1 avis
Neuf dès 105,00 €
-
The Mirabelle Cookbook
Occasion dès 98,08 €
-
Dji Osmo 4 : 4k/240fps3activetrack
Neuf dès 85,99 €
-
Gilbert Portanier
Neuf dès 141,34 €
-
Vouet: Grand Palais 6 Novembre 1990 11 Février 1991
Occasion dès 150,00 €
-
Pete Townshend: Who I Am
Neuf dès 127,99 €
-
Cambridge English Proficiency 2 Student's Book With Answers With Audio
Neuf dès 91,64 €
-
Georgia O'keeffe
Occasion dès 106,99 €
-
A First Course In Logic
Neuf dès 130,46 €
Occasion dès 163,99 €
-
Car Racing 1965
2 avis
Neuf dès 109,00 €
-
The Lord Of The Rings
Neuf dès 183,44 €
-
The New Munsell Student Color Set
Neuf dès 125,62 €
-
Mykonos Muse
Neuf dès 105,00 €
Occasion dès 94,54 €
-
Jouef : Les Petits Trains De Notre Enfance
1 avis
Occasion dès 115,00 €
-
Paolo Roversi Livre Nudi
2 avis
Occasion dès 175,00 €
-
Car Racing 1970
3 avis
Neuf dès 129,00 €
-
Financial & Managerial Accounting Ise
Neuf dès 104,72 €
-
Official Game Guide Mass Effect 3 Collector Edition
Occasion dès 79,00 €
-
Oxford Resources For Ib Dp Chemistry: Course Book
Neuf dès 102,33 €
Produits similaires
Présentation High Quality Test Pattern Generation And Boolean Satisfiability Format Broché
- Livre Littérature Générale
Résumé :
This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT).? A fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework is presented which is also able to generate high-quality delay tests such as robust path delay tests, as well as tests with long propagation paths to detect small delay defects. ? The aim of the techniques and methodologies presented in this book is to improve SAT-based ATPG, in order to make it applicable in industrial practice. Readers will learn to improve the performance and robustness of the overall test generation process, so that the ATPG algorithm reliably will generate test patterns for most targeted faults in acceptable run time to meet the high fault coverage demands of industry. The techniques and improvements presented in this book provide the following advantages: ?Provides a comprehensive introduction to test generation and Boolean Satisfiability (SAT); ?Describes a highly fault efficient SAT-based ATPG framework; Introduces circuit-oriented SAT solving techniques, which make use of structural information and are able to accelerate the search process significantly; Provides SAT formulations for the prevalent delay faults models, in addition to the classical stuck-at fault model; Includes an industrial perspective on the state-of-the-art in the testing, along with SAT; two topics typically distinguished from each other.
Sommaire:
Part I: Preliminaries and Previous Work.- Circuits and Testing.- Boolean Satisfiability.- ATPG Based on Boolean Satisfiability.- Part II: New SAT Techniques and their Application in ATPG.- Dynamic Clause Activation.- Circuit-based Dynamic Learning.- Part III: High Quality Delay Test Generation.- High Quality ATPG for Transition Faults.- Path Delay Fault Model.- Summary and Outlook.
Détails de conformité du produit
Personne responsable dans l'UE