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Silicon Carbide - Zhe, Chuan Feng

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        Présentation Silicon Carbide Format Relié

         - Livre Encyclopédies, Dictionnaires

        Livre Encyclopédies, Dictionnaires - Zhe, Chuan Feng - 01/10/2003 - Relié - Langue : Anglais

        . .

      • Auteur(s) : Zhe, Chuan Feng
      • Editeur : Crc Press
      • Langue : Anglais
      • Parution : 01/10/2003
      • Format : Moyen, de 350g à 1kg
      • Nombre de pages : 400
      • Expédition : 703
      • Dimensions : 23.5 x 15.7 x 2.6
      • ISBN : 1591690234



      • Résumé :
        This book explores the history and latest developments in the SiC field, with an emphasis on the properties and applications of SiC to electronics and optoelectronics.

        Sommaire:

        Preface

        Chapter 1 Epitaxial growth of high-quality silicon carbide - Fundamentals and recent
        progress -
        -- T. Kimoto and H. Matsunami* (Kyoto University)
        (1) Introduction
        (2) Step-controlled Epitaxy of SiC
        2.1 Chemical vapor deposition
        2.2 Step-controlled epitaxy
        2.3 Surface morphology
        (3) Growth mechanism of step-controlled epitaxy
        3.1 Rate-determining process
        3.2 Off-angle dependence of growth rate
        3.3 Temperature dependence of growth rate
        3.4 Prediction of step-flow growth condition
        3.4.1 Surface diffusion model
        3.4.2 Desorption flux
        3.4.3 Critical supersaturation ratio
        3.4.4 Critical growth conditions
        3.4.5 Surface diffusion length
        3.4.6 Prediction of growth mode
        (4) Behaviors of steps in SiC epitaxy
        4.1 Nucleation and step motion
        4.2 Step bunching
        (5) Characterization of epitaxial layers
        5.1 Structural characterization
        5.2 Optical characterization
        5.3 Electrical characterization
        (6) Doping of impurities
        6.1 Donor doping
        6.2 Acceptor doping
        (7) Recent progress
        7.1 Practical epitaxial growth
        7.2 Epitaxial growth on (11-20)
        (8) Concludions
        References

        Chapter 2 Surface characterization of 6H-SiC reconstructions
        -- Kian-Ping LOH, Eng-Soon TOK, and Andrew T. S. WEE*
        (National University of Singapore)
        1. INTRODUCTION
        2. Sample preparation methods for characterization of surface reconstruction
        3. Reflection High Energy Electron Diffraction (RHEED)
        3.1 RHEED system set-up
        3.2 RHEED analysis of surface reconstruction on 6H-SiC (0001)
        3.3 6H-SiC (0001)-(1?1) reconstruction
        3.4 6H-SiC (0001)-(3?3) reconstruction
        3.5 6H-SiC(0001)-(6?6) reconstruction
        3.6 6H-SiC(0001)-(?3??3R ) reconstruction
        3.7 1?1 graphite-R on 1?1 SiC
        3.8 RHEED Rocking beam analysis
        4. Scanning Tunneling Microscopy (STM)
        4.1 Surface Morphological Evolution of 6H-SiC(0001)
        4.2 6H-SiC (0001)-(3&

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