Statistical Performance Analysis And Modeling Techniques For Nanometer Vlsi Designs Format Broché

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs - Shen, Ruijing

Format: Broché
336 pages

Note : 0

0 avis

Soyez le premier à donner un avis

Vous en avez un à vendre ?

Vendez-le-vôtre

205,99 €

Occasion · Comme Neuf

Ou 51,50 € /mois

Livraison : 25,00 €

Voir les modes de livraison

Protection acheteurs :
0,00 €

PRO Vendeur favori

4,6/5 sur + de 1 000 ventes

Service client à l'écoute et une politique de retour sans tracas - Livraison des USA en 3 a 4 semaines (2 mois si circonstances exceptionnelles) - La plupart de nos titres sont en anglais, sauf indication contraire. N'hésitez pas à nous envoyer un e-... Voir plus

Vous avez choisi le retrait chez le vendeur à

Payez directement sur Rakuten (CB, PayPal, 4xCB...)
Récupérez le produit directement chez le vendeur
Rakuten vous rembourse en cas de problème

Terminer ma commande

Gratuit et sans engagement

Félicitations !

Nous sommes heureux de vous compter parmi nos membres du Club Rakuten !

TROUVER UN MAGASIN

Adresse

Retour

Horaires

Note :

Avis sur Statistical Performance Analysis And Modeling Techniques For Nanometer Vlsi Designs Format Broché - Livre Littérature Générale

Note : 0 0 avis sur Statistical Performance Analysis And Modeling Techniques For Nanometer Vlsi Designs Format Broché - Livre Littérature Générale

Donnez votre avis et cumulez 5

Cumulez 5 en donnant votre avis

Votre note * : 1/5 2/5 3/5 4/5 5/5 Veuillez donner une note au produit

Le titre de votre avis* : Saisissez un titre

Quelques conseils :

Donnez le ton de votre avis, résumez-le en quelques mots qui apparaîtront comme le titre de votre avis.

Votre avis* : (40 caractères minimum) Saisissez un avis

Quelques conseils :

N'hésitez pas à mettre en avant les caractéristiques de ce produit, n'oubliez pas de mentionner ses avantages et/ou ses défauts éventuels. Décrivez précisément, argumentez, soyez convaincant !

Annuler

Les avis publiés font l'objet d'un contrôle automatisé de Rakuten.

Produits similaires

Présentation Statistical Performance Analysis And Modeling Techniques For Nanometer Vlsi Designs Format Broché
- Livre Littérature Générale

Livre Littérature Générale - Shen, Ruijing - 01/04/2014 - Broché - Langue : Anglais

Auteur(s) : Shen, Ruijing - Yu, Hao - Tan, Sheldon X. -D.Editeur : Springer UsLangue : AnglaisParution : 01/04/2014Format : Moyen, de 350g à 1kgNombre de pages : 336Expédition :...

Auteur(s) : Shen, Ruijing - Yu, Hao - Tan, Sheldon X. -D.

Editeur : Springer Us

Langue : Anglais

Parution : 01/04/2014

Format : Moyen, de 350g à 1kg

Nombre de pages : 336

Expédition : 511

Dimensions : 23.5 x 15.5 x 1.9

Résumé :
Since process variation and chip performance uncertainties have become more pronounced as technologies scale down into the nanometer regime, accurate and efficient modeling or characterization of variations from the device to the architecture level have? become imperative for the successful design of VLSI chips. This book provides readers with tools for variation-aware design methodologies and computer-aided design (CAD) of VLSI systems, in the presence of process variations at the nanometer scale. It presents the latest developments for modeling and analysis, with a focus on statistical interconnect modeling, statistical parasitic extractions, statistical full-chip leakage and dynamic power analysis considering spatial correlations, statistical analysis and modeling for large global interconnects and analog/mixed-signal circuits.? Provides readers with timely, systematic and comprehensive treatments of statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks, and analog/mixed-signal circuits; Helps chip designers understand the potential and limitations of their design tools, improving their design productivity; Presents analysis of each algorithm with practical applications in the context of real circuit design; Includes numerical examples for the quantitative analysis and evaluation of algorithms presented.? Presents analysis of each algorithm with practical applications in thecontext of real circuit design; Includes numerical examples for the quantitative analysis and evaluation of algorithms presented.?

Sommaire:
Fundamentals of Statistical Analysis.- Statistical Full-Chip Leakage Power Analysis.- Statistical Full-Chip Dynamic Power Analysis.- Statistical Parasitic Extraction.- Statistical Compact Modeling and Reduction of Interconnects.- Statistical Analysis of Global Interconnects.- Statistical Analysis and Modeling for Analog and Mixed-Signal Circuits.

Détails de conformité du produit

Consulter les détails de conformité de ce produit (

Personne responsable dans l'UE

)

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs - Shen, Ruijing

Avis sur Statistical Performance Analysis And Modeling Techniques For Nanometer Vlsi Designs Format Broché - Livre Littérature Générale

Présentation Statistical Performance Analysis And Modeling Techniques For Nanometer Vlsi Designs Format Broché - Livre Littérature Générale

Présentation Statistical Performance Analysis And Modeling Techniques For Nanometer Vlsi Designs Format Broché
- Livre Littérature Générale