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Avis sur Dft+Dfd: An Integrated Method For Design For Testability And Diagnosis Format Broché - Livre Encyclopédies, Dictionnaires

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Livre Encyclopédies, Dictionnaires - Michael Hsiao - 01/02/2011 - Broché - Langue : Anglais

Auteur(s) : Michael Hsiao - Rahagude, Nikhil

Editeur : Lap Lambert Academic Publishing

Langue : Anglais

Parution : 01/02/2011

Format : Moyen, de 350g à 1kg

Nombre de pages : 96.0

ISBN : 3843388016

Résumé :
While conventional test point insertions commonly used in design for testability can improve fault coverage, the test points selected may not necessarily be the best candidates to aid silicon diagnosis. This book targets test point insertions to detect more faults as well as to distinguish currently indistinguishable fault-pairs. This is achieved by identifying those points in the circuit, which are not only hard-to-test but also lie on distinguishable frontiers, as Testability-Diagnosability (TD) points. To this end, a novel low-cost metric to identify such TD points is proposed. Further, a new DFT + DFD architecture is developed, which adds just one pin (to identify test/functional mode) and small additional combinational logic to the circuit under test. In the other part, improving diagnosis in BIST environment is targeted. To facilitate diagnosis, researchers have proposed the use of two additional on-chip embedded memories, response memory to store reference responses and fail memory to store failing responses. In this book, a novel architecture is proposed which requires only one additional memory and responses of only a small subset of available test patterns are stored....

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DFT+DFD: An Integrated Method for Design for Testability and Diagnosis - Michael Hsiao

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