Personnaliser

OK

Test Infrastructure Design - Anuja Banerjee

Note : 0

0 avis
  • Soyez le premier à donner un avis

Vous en avez un à vendre ?

Vendez-le-vôtre

104,55 €

Produit Neuf

  • Ou 26,14 € /mois

    • Livraison : 25,00 €
    • Livré entre le 7 et le 12 mai
    Voir les modes de livraison

    Kelindo

    PRO Vendeur favori

    4,8/5 sur + de 1 000 ventes

    Apres acceptation de la commande, le delai moyen d'expedition depuis le Japon est de 48 heures. Le delai moyen de livraison est de 3 a 4 semaines. En cas de circonstances exceptionnelles, les delais peuvent s'etendre jusqu'à 2 mois.

    Publicité
     
    Vous avez choisi le retrait chez le vendeur à
    • Payez directement sur Rakuten (CB, PayPal, 4xCB...)
    • Récupérez le produit directement chez le vendeur
    • Rakuten vous rembourse en cas de problème

    Gratuit et sans engagement

    Félicitations !

    Nous sommes heureux de vous compter parmi nos membres du Club Rakuten !

    En savoir plus

    Retour

    Horaires

        Note :


        Avis sur Test Infrastructure Design de Anuja Banerjee Format Broché  - Livre Encyclopédies, Dictionnaires

        Note : 0 0 avis sur Test Infrastructure Design de Anuja Banerjee Format Broché  - Livre Encyclopédies, Dictionnaires

        Les avis publiés font l'objet d'un contrôle automatisé de Rakuten.


        Présentation Test Infrastructure Design de Anuja Banerjee Format Broché

         - Livre Encyclopédies, Dictionnaires

        Livre Encyclopédies, Dictionnaires - Anuja Banerjee - 01/02/2011 - Broché - Langue : Anglais

        . .

      • Auteur(s) : Anuja Banerjee - Krishnendu Chakrabarty
      • Editeur : Lap Lambert Academic Publishing
      • Langue : Anglais
      • Parution : 01/02/2011
      • Format : Moyen, de 350g à 1kg
      • Nombre de pages : 188.0
      • ISBN : 9783843373593



      • Sommaire:
        Current-generation SOCs contain a heterogeneous mix of embedded cores, which include not only flat (non-hierarchical) digital modules, but also analog and hierarchical modules. The increase in SOC complexity has also been accompanied by the development of more versatile automatic test equipment (ATE). This book presents methods for modular test of heterogeneous SOCs, whereby test cost is reduced by combining effective test infrastructure design with efficient utilization of ATE resources. Test infrastructure design refers to the design and optimization of test wrappers and test access mechanisms, as well as test scheduling for efficient resource utilization....

        Détails de conformité du produit

        Consulter les détails de conformité de ce produit (

        Personne responsable dans l'UE

        )
        Le choixNeuf et occasion
        Minimum5% remboursés
        La sécuritéSatisfait ou remboursé
        Le service clientsÀ votre écoute
        LinkedinFacebookTwitterInstagramYoutubePinterestTiktok
        visavisa
        mastercardmastercard
        klarnaklarna
        paypalpaypal
        floafloa
        americanexpressamericanexpress
        Rakuten Logo
        • Rakuten Kobo
        • Rakuten TV
        • Rakuten Viber
        • Rakuten Viki
        • Plus de services
        • À propos de Rakuten
        Rakuten.com