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Livre Littérature Générale - 01/03/2012 - Broché - Langue : Anglais

Editeur : Springer Netherland

Langue : Anglais

Parution : 01/03/2012

Format : Moyen, de 350g à 1kg

Nombre de pages : 272

Expédition : 417

Dimensions : 23.5 x 15.5 x 1.5

ISBN : 9400730934

Sommaire:
Contributing Authors. Preface. To Christian: a Real Test & Taste Expert. From LAAS to LIRMM and Beyond. 1. Open Defects in Nanometer Technologies; J. Figueras, R. Rodr?guez-Monta??s, D. Arum? 2. Models for Bridging Defects; M. Renovell, F. Azais, J. Figueras, R. Rodriguez-Montanes, D. Arumi 3. Models for Delay Faults; S.M. Reddy 4. Fault Modeling for Simulation and ATPG; B.Becker, I.Polian 5. Generalized Fault Modeling for Logic Diagnosis; H.-J. Wunderlich, S. Holst 6. Models in Memory Testing; S.Di Carlo, P.Prinetto 7. Models for Power-Aware Testing; P.Girard, H.-J.Wunderlich 8. Physical Fault Models and Fault Tolerance; J.Arlat, Y.Crouzet Index.

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