Meß- und Prüftechnik - Zerbst, Manfred
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Avis sur Meß - Und Prüftechnik de Zerbst, Manfred Format Broché - Livre Littérature Générale
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Présentation Meß - Und Prüftechnik de Zerbst, Manfred Format Broché
- Livre Littérature Générale
Résumé :
1 Einleitung.- Literatur zu Kapitel 1.- 2 Analoge integrierte Schaltungen.- 2.1 Informationsgehalt von Datenbl?ttern.- 2.2 Allgemeine Messungen.- 2.3 Typenbezogene Messungen.- 2.4 Pr?fstrategien und Pr?fmittel.- 2.5 Literatur zu Kapitel 2.- 3 Testen digitaler integrierter Schaltungen.- 3.1 Einleitung.- 3.2 Fehlerursachen und Fehlermodelle.- 3.3 Testmustererzeugung.- 3.4 Testfreundlicher Entwurf.- 3.5 Testen digitaler Speicher.- 3.6 Testautomaten.- 3.7 Literatur zu Kapitel 3.- 4 Zuverl?ssigkeit integrierter Schaltungen.- 4.1 Zuverl?ssigkeitsbegriffe und statistische Beschreibungsweisen.- 4.2 Ausfallmechanismen und ihre Aktivierbarkeit durch Belastung.- 4.3 Reale Zuverl?ssigkeit.- 4.4 Ma?nahmen der Zuverl?ssigkeitssicherung.- 4.5 Ma?zahlen der Zuverl?ssigkeit.- 4.6 Literatur zu Kapitel 4.- 5 Elektronenstrahl-Potentialme?technik.- 5.1 Einf?hrung.- 5.2 Qualitative Verfahren.- 5.3 Quantitative Verfahren.- 5.4 Me?bedingungen.- 5.5 Ger?te.- 5.6 Anwendungen.- 5.7 Literatur zu Kapitel 5.- 6 Pr?fen von Halbleiterbauelementen mittels elektroneninduziertem Strom (EBIC).- 6.1 Einf?hrung.- 6.2 Grundlagen.- 6.3 Versuchsbedingungen.- 6.4 Anwendungen.- 6.5 Literatur zu Kapitel 6.- 7 Leistungshalbleiterbauelemente.- 7.1 ?bersicht.- 7.2 Typische Probleme der Me?technik f?r Leistungshalbleiterbauelemente.- 7.3 Typische Me?methoden.- 7.4 Beschreibung eines Me?platzes.- 7.5 Literatur zu Kapitel 7.- 8 Optoelektronische Bauelemente.- 8.1 Einf?hrung.- 8.2 Lichtmessung.- 8.3 Messungen an Lichtsendern.- 8.4 Messungen an Lichtempf?ngern.- 8.5 Messung von Sender-Empf?nger-Kombinationen.- 8.6 Literatur zu Kapitel 8....
Sommaire:
1 Einleitung.- Literatur zu Kapitel 1.- 2 Analoge integrierte Schaltungen.- 2.1 Informationsgehalt von Datenbl?ttern.- 2.2 Allgemeine Messungen.- 2.3 Typenbezogene Messungen.- 2.4 Pr?fstrategien und Pr?fmittel.- 2.5 Literatur zu Kapitel 2.- 3 Testen digitaler integrierter Schaltungen.- 3.1 Einleitung.- 3.2 Fehlerursachen und Fehlermodelle.- 3.3 Testmustererzeugung.- 3.4 Testfreundlicher Entwurf.- 3.5 Testen digitaler Speicher.- 3.6 Testautomaten.- 3.7 Literatur zu Kapitel 3.- 4 Zuverl?ssigkeit integrierter Schaltungen.- 4.1 Zuverl?ssigkeitsbegriffe und statistische Beschreibungsweisen.- 4.2 Ausfallmechanismen und ihre Aktivierbarkeit durch Belastung.- 4.3 Reale Zuverl?ssigkeit.- 4.4 Ma?nahmen der Zuverl?ssigkeitssicherung.- 4.5 Ma?zahlen der Zuverl?ssigkeit.- 4.6 Literatur zu Kapitel 4.- 5 Elektronenstrahl-Potentialme?technik.- 5.1 Einf?hrung.- 5.2 Qualitative Verfahren.- 5.3 Quantitative Verfahren.- 5.4 Me?bedingungen.- 5.5 Ger?te.- 5.6 Anwendungen.- 5.7 Literatur zu Kapitel 5.- 6 Pr?fen von Halbleiterbauelementen mittels elektroneninduziertem Strom (EBIC).- 6.1 Einf?hrung.- 6.2 Grundlagen.- 6.3 Versuchsbedingungen.- 6.4 Anwendungen.- 6.5 Literatur zu Kapitel 6.- 7 Leistungshalbleiterbauelemente.- 7.1 ?bersicht.- 7.2 Typische Probleme der Me?technik f?r Leistungshalbleiterbauelemente.- 7.3 Typische Me?methoden.- 7.4 Beschreibung eines Me?platzes.- 7.5 Literatur zu Kapitel 7.- 8 Optoelektronische Bauelemente.- 8.1 Einf?hrung.- 8.2 Lichtmessung.- 8.3 Messungen an Lichtsendern.- 8.4 Messungen an Lichtempf?ngern.- 8.5 Messung von Sender-Empf?nger-Kombinationen.- 8.6 Literatur zu Kapitel 8.
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