Delay Fault Testing For Vlsi Circuits Format Broché

Delay Fault Testing for VLSI Circuits - Krstic, Angela

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Présentation Delay Fault Testing For Vlsi Circuits Format Broché
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Livre Sciences de la vie et de la terre - Krstic, Angela - 01/10/2012 - Broché - Langue : Anglais

Auteur(s) : Krstic, Angela - Kwang-Ting (Tim) Cheng

Editeur : Springer Us, New York, N.Y.

Langue : Anglais

Parution : 01/10/2012

Format : Moyen, de 350g à 1kg

Nombre de pages : 208

Expédition : 324

Dimensions : 23.5 x 15.5 x 1.2

ISBN : 9781461375616

Sommaire:
1. Introduction.- 1.1 A Problem of Interest.- 1.2 Overview of the book.- 2. Test Application Schemes for Testing Delay Defects.- 2.1 Combinational Circuits.- 2.2 Sequential Circuits.- 2.3 Testing High Performance Circuits Using Slower Testers.- 2.4 Summary.- 3. Delay Fault Models.- 3.1 Transition Fault Model.- 3.2 Gate Delay Fault Model.- 3.3 Line Delay Fault Model.- 3.4 Path Delay Fault Model.- 3.5 Segment Delay Fault Model.- 3.6 Summary.- 4. Case Studies on Delay Testing.- 4.1 Summary.- 5. Path Delay Fault Classification.- 5.1 Sensitization Criteria.- 5.2 Path Delay Faults that do Not Need Testing.- 5.3 Multiple Path Delay Faults and Primitive Faults.- 5.4 Path Delay Fault Classification for Sequential Circuits.- 5.5 Summary.- 6. Delay Fault Simulation.- 6.1 Transition Fault Simulation.- 6.2 Gate delay fault simulation.- 6.3 Path Delay Fault Simulation.- 6.4 Segment Delay Fault Simulation.- 6.5 Summary.- 7. Test Generation for Path Delay Faults.- 7.1 Robust Tests.- 7.2 High Quality Non-Robust Tests.- 7.3 Validatable Non-Robust Tests.- 7.4 High Quality Functional Sensitizable Tests.- 7.5 Tests for Primitive Faults.- 7.6 Summary.- 8. Design for Delay Fault Testability.- 8.1 Improving The Path Delay Fault Testability by Reducing The Number of Faults.- 8.2 Improving The Path Delay Fault Testability by Increasing Robust Testability of Designs.- 8.3 Improving Path Delay Fault Testability by Increasing Primitive Delay Fault Testability.- 8.4 Summary.- 9. Synthesis for Delay Fault Testability.- 9.1 Synthesis for Robust Delay Fault Testability.- 9.2 Synthesis for Validatable Non-Robust Testable and Delay-Verifiable Circuits.- 9.3 Summary.- 10. Conclusions and Future Work.- References.

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