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Electronic Nose: Algorithmic Challenges - Zhang, Lei

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      Présentation Electronic Nose: Algorithmic Challenges Format Broché

       - Livre Manga

      Livre Manga - Zhang, Lei - 31/12/2018 - Broché - Langue : Anglais

      . .

    • Auteur(s) : Zhang, Lei - Zhang, David - Tian, Fengchun
    • Editeur : Springer Singapore
    • Langue : Anglais
    • Parution : 31/12/2018
    • Format : Moyen, de 350g à 1kg
    • Nombre de pages : 356
    • Expédition : 540
    • Dimensions : 23.5 x 15.5 x 2.0
    • ISBN : 9811347417



    • Résumé :

      Dr. Lei Zhang ?received his Ph.D degree in Circuits and Systems from the College of Communication Engineering, Chongqing University, China, in 2013. He was selected as a Hong Kong Scholar in China in 2013, and worked as a Postdoctoral Fellow at The Hong Kong Polytechnic University from 2013 to 2015. He was also a short-term Visiting Scholar at Tsinghua University and Harbin Institute of Technology (Shenzhen Graduate School). He was a Senior Visiting Scholar at the University of Macau from 2017 to 2018. He is currently a Professor/Distinguished Research Fellow at Chongqing University. Dr. Zhang has authored more than 70 scientific papers in various leading journals and conferences, five of which were named as Highly Cited and Hot papers by Thomson Reuters. His current research interests include machine learning, pattern recognition, computer vision, image classification and intelligent systems. He has been a reviewer for more than 50 journals, such as IEEE T-IP, IEEE T-MM,IEEE T-CSVT, IEEE T-IM, IEEE T-SMCA, IEEE T-IE, IEEE T-CYB, IEEE Sensors Journal, IEEE GRSL, Pattern Recognition, Information Sciences, Neural Networks, Neurocomputing, and Expert Systems with Applications.

      Dr. Zhang was a recipient of the Best Paper Award by the Chinese Conference on Biometric Recognition in 2017...

      Biographie:
      the Outstanding Paper Award by Chongqing Association for Science and Technology, Outstanding Reviewer Award from the Sensor Review Journal in 2016...

      Sommaire:
      the 3rd?place in the ACM MM RFIW Challenge Competition...

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