VLSI Design and Test -

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Présentation Vlsi Design And Test Format Broché
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Livre Informatique - 01/12/2017 - Broché - Langue : Anglais

Editeur : Springer Singapore

Langue : Anglais

Parution : 01/12/2017

Format : Moyen, de 350g à 1kg

Nombre de pages : 840

Expédition : 1247

Dimensions : 23.5 x 15.5 x 4.5

ISBN : 9811074690

Résumé :
This book constitutes the refereed proceedings of the 21st International Symposium on VLSI Design and Test, VDAT 2017, held in Roorkee, India, in June/July 2017. The 48 full papers presented together with 27 short papers were carefully reviewed and selected from 246 submissions. The papers were organized in topical sections named: digital design; analog/mixed signal; VLSI testing; devices and technology; VLSI architectures; emerging technologies and memory; system design; low power design and test; RF circuits; architecture and CAD; and design verification.

Sommaire:

Digital design.- Analog/mixed signal.- VLSI testing.- Devices and technology.- VLSI architectures.- Emerging technologies and memory.- System design.- Low power design and test.- RF circuits.- Architecture and CAD.- Design verification.

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