Advanced Scanning Electron Microscopy And X-Ray Microanalysis Format Broché

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Echlin, Patrick

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Livre Encyclopédies, Dictionnaires - Echlin, Patrick - 01/06/2013 - Broché - Langue : Anglais

Auteur(s) : Echlin, Patrick - Fiori, C. E. - Goldstein, Joseph - Joy, David C. - Newbury, Dale E.

Editeur : Springer Us, New York, N.Y.

Langue : Anglais

Parution : 01/06/2013

Format : Moyen, de 350g à 1kg

Nombre de pages : 476

Expédition : 683

Dimensions : 22.9 x 15.2 x 2.6

ISBN : 9781475790290

Sommaire:
1. Modeling Electron Beam-Specimen Interactions.- 2. SEM Microcharacterization of Semiconductors.- 3. Electron Channeling Contrast in the SEM.- 4. Magnetic Contrast in the SEM.- 5. Computer-Aided Imaging and Interpretation.- 6. Alternative Microanalytical Techniques.- 7. Specimen Coating.- 8. Advances in Specimen Preparation for Biological SEM.- 9. Cryomicroscopy.- References.

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