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Reduced Thermal Processing for ULSI -

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        Avis sur Reduced Thermal Processing For Ulsi Format Broché  - Livre Littérature Générale

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        Présentation Reduced Thermal Processing For Ulsi Format Broché

         - Livre Littérature Générale

        Livre Littérature Générale - 01/09/2011 - Broché - Langue : Anglais

        . .

      • Editeur : Springer Us, New York, N.Y.
      • Langue : Anglais
      • Parution : 01/09/2011
      • Format : Moyen, de 350g à 1kg
      • Nombre de pages : 456
      • Expédition : 781
      • Dimensions : 24.4 x 17.0 x 2.5
      • ISBN : 1461278570



      • Résumé :
        Proceedings of a NATO ASI held in Boca Raton, Florida, June 20-July 1, 1988

        Sommaire:
        Rapid Thermal Processing with Reactive Gases.- Rapid Thermal Processing.- Kinetics of Silicon Dielectrics by RTP.- Applications.- Polysilicon Dielectrics.- Rapid Thermal CVD: In-Situ Device Fabrication.- Summary.- Silicidation by Rapid Thermal Processing.- Reactions in the Salicide Process.- Technological Implementation.- Device Implementation of TiSi2 and CoSi2.- Conclusions.- Microstructural Defects in Rapid Thermally Processed IC Materials.- Microstructural Defects in Implanted and Subsequently Rapid Thermally Annealed Silicon Wafers.- Shallow Emitters (for Bipolar Transistors) from Doped Polysilicon Contacts.- Rapid Thermal Oxidation (RTO).- Rapid Thermal Processing of Silicides.- Concluding Remarks.- Rapid Thermal Annealing - Theory and Practice.- Transfer of Energy in Radiant Heating Systems.- Physics of Rapid Thermal Annealers Using Lamp Sources.- Modelling of Rapid Thermal Annealing - Temperature Control.- Modelling of Rapid Thermal Annealing - Temperature Uniformity.- Temperature Measurement.- Emissivity Measurement.- Temperature Non-Uniformity.- Problems and Solutions.- Practical Machine Designs.- Rapid Thermal Process Integration.- CMOS Device Processing.- Device/Circuit Operation Considerations.- Process Interaction Problems.- Process Integration Opportunities with RTP.- Summary.- to Direct Writing of Integrated Circuit.- Laser Pantography Procedure.- Resolution in Laser Pantography.- Laser Induced Temperature.- Laser Wavelength and Laser Power.- Main Difficulties in Laser Direct Writing.- Deposition and Etching Rates.- Process for Silicon Microelectronics.- Laser Induced Chemical Reactions.- Conclusion.- Ion Beam Assisted Processes.- Defect and Collision Cascade.- Ion Beam Assisted Epitaxy Regrowth.- High Current Implant.- Conclusions.-Micrometallization Technologies.- Metallization Techniques.- Ohmic Contacts.- Gate Contacts.- Barrier Layers.- Interconnections.- Multilevel Interconnect Structures.- Metal Conductor Generation.- Intermetal Insulation and Step Coverage.- Topographical Effects.- Possible Solutions to Multilevel Interconnect Problems.- Speculation on Future Multilevel Interconnect.- Interlevel Dielectrics for Reduced Thermal Processing.- Pre-Metal Planarization Process.- Requirements.- Deposition Process.- Optimization of the Flow Step.- Film Analysis.- Other Methods Involving Oxides.- Multilevel-Metal (MLM) Concepts.- Deposited Layers for MLM.- Planarization Concepts.- Depositions Incorporating In-Situ Etchback.- Conclusion.- Low Temperature Silicon Epitaxy for Novel Device Structures.- Low Temperature Epitaxy.- Auto doping, Transition Width and Dopant Incorporation/Reincorporation.- Buried Layer Pattern Transmittance.- Selective Epitaxial Growth.- Conclusion.- Participants.

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