Scanning Electron Microscopy And X-Ray Microanalysis Format Broché

Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Echlin, Patrick

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Livre Encyclopédies, Dictionnaires - Echlin, Patrick - 01/09/2011 - Broché - Langue : Anglais

Auteur(s) : Echlin, Patrick - Fiori, Charles - Goldstein, Joseph - Joy, David C. - Lifshin, Eric - Lyman, Charles E. - Newbury, Dale E. - Romig Jr., Alton D.

Editeur : Springer Us, New York, N.Y.

Langue : Anglais

Parution : 01/09/2011

Format : Moyen, de 350g à 1kg

Nombre de pages : 844

Expédition : 1554

Dimensions : 25.4 x 17.8 x 4.5

ISBN : 1461276535

Sommaire:
Introduction. Electron Optics. Electron Scattering. Image Formation and Interpretation. X-Ray Spectral Measurement. Qualitative X-Ray Analysis. X-Ray Peak and Background Measurements. Quantitative X-Ray Analysis, The Basics. Quantitative X-Ray Analysis. Compositional Imaging. Specimen Preparation for Inorganic Materials. Sample Preparation for Biological, Organic, Polymeric, and Hydrated Materials. Coating and Conductivity Techniques for SEM and Microanalysis. Database Index.

From a review of the first edition: `The emphasis throughout has been on practical aspects ... that approach, plus the comprehensiveness of the material covered, makes this a valuable, virtually indispensible, reference work.' Microscope Journal

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