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Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Echlin, Patrick

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        Avis sur Scanning Electron Microscopy And X - Ray Microanalysis de Echlin, Patrick Format Broché  - Livre Physique - Chimie

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        Présentation Scanning Electron Microscopy And X - Ray Microanalysis de Echlin, Patrick Format Broché

         - Livre Physique - Chimie

        Livre Physique - Chimie - Echlin, Patrick - 30/04/2013 - Broché - Langue : Anglais

        . .

      • Auteur(s) : Echlin, Patrick - Goldstein, Joseph - Joy, David C. - Lifshin, Eric - Lyman, Charles E. - Michael, J. R. - Newbury, Dale E. - Sawyer, Linda
      • Editeur : Springer Us, New York, N.Y.
      • Langue : Anglais
      • Parution : 30/04/2013
      • Format : Moyen, de 350g à 1kg
      • Nombre de pages : 720
      • Expédition : 1330
      • Dimensions : 25.4 x 17.8 x 3.9
      • ISBN : 1461349699



      • Résumé :
        An ideal text for students as well as practitioners, this is a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. The text has been used in educating over 3,000 students at the Lehigh SEM short course as well as thousands of undergraduate and graduate students at universities across the globe. The authors emphasize the practical aspects of the techniques described. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis. Separate chapters cover SEM sample preparation methods for hard materials, polymers, and biological specimens....

        There is no other single volume that covers as much theory and practice of SEM or X-ray microanalysis as Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis, 3rd Edition does. It is clearly written [and] well organized[.]... This is a reference text that no SEM or EPMA laboratory should be without. --Thomas J. Wilson, in Scanning, Vol. 27, No. 4, July/August 2005

        As the authors pointed out, the number of equations in the book is kept to a minimum, and important conceptions are also explained in a qualitative manner.?A lot of very distinct images and schematic drawings make for a very interesting book and help readers who study scanning electron microscopy and X-ray microanalysis. The principal application and sample preparation given in this book are suitable for undergraduate students and technicians learning SEEM and EDS/WDS analyses. It is an excellent textbook for graduate students, and an outstanding reference for engineers, physical, and biological scientists. (Microscopy and Microanalysis, 9:5 (October 2003)

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