Applied Measurement with jMetrik - Meyer, J. Patrick
- Format: Broché Voir le descriptif
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Présentation Applied Measurement With Jmetrik de Meyer, J. Patrick Format Broché
- Livre Science humaines et sociales, Lettres
Résumé :
Preface. Acknowledgements. Chapter 1: Data Management. Chapter 2: Item Scoring. Chapter 3: Test Scaling. Chapter 4: Item Analysis. Chapter 5: Reliability. Chapter 6: Differential Item Functioning. Chapter 7: Rasch Measurement. Chapter 8: Polytomous Rasch Models. Chapter 9: Plotting Item and Test Characteristics. Chapter 10: IRT Scale Linking and Score Equating. References. Appendix...
Biographie:
J. Patrick Meyer is an associate professor in the Curry School of Education at the University of Virginia
Sommaire:
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