87,71 €
Produit Neuf
Ou 21,93 € /mois
- Livraison à 0,01 €
- Livré entre le 21 août et le 7 septembre
Brand new, In English, Fast shipping from London, UK; Tout neuf, en anglais, expédition rapide depuis Londres, Royaume-Uni;ria9781461486596_dbm
Nos autres offres
-
78,62 €
Produit Neuf
Ou 19,66 € /mois
- Livraison : 3,99 €
- Livré entre le 21 et le 27 août
Voir le détail de l'annonce -
87,71 €
Produit Neuf
Ou 21,93 € /mois
- Livraison à 0,01 €
- Livré entre le 21 août et le 7 septembre
Brand new, In English, Fast shipping from London, UK; Tout neuf, en anglais, expédition rapide depuis Londres, Royaume-Uni;ria9781461486596_dbm
Voir le détail de l'annonce
- Payez directement sur Rakuten (CB, PayPal, 4xCB...)
- Récupérez le produit directement chez le vendeur
- Rakuten vous rembourse en cas de problème
Gratuit et sans engagement
Félicitations !
Nous sommes heureux de vous compter parmi nos membres du Club Rakuten !
TROUVER UN MAGASIN
Retour
Avis sur Helium Ion Microscopy Format Broché - Livre Littérature Générale
0 avis sur Helium Ion Microscopy Format Broché - Livre Littérature Générale
Les avis publiés font l'objet d'un contrôle automatisé de Rakuten.
-
Der Mythus Des Zwangzigsten Jahrhunderts
Occasion dès 49,00 €
-
Elvis Presley On Tour Livre Usa 120 Pages 240 Photos Inedites ! Rare!
Occasion dès 59,00 €
-
Complete Swedish Beginner To Intermediate Course
1 avis
Neuf dès 49,73 €
-
Alinea
1 avis
Occasion dès 55,00 €
-
Flight Attendants
Occasion dès 40,99 €
-
Mathématiques 1re S Et E : Géométrie Et Statistiques (Collection Terracher)
2 avis
Occasion dès 46,96 €
-
Des Bienfaits, 2 Tomes
1 avis
Occasion dès 45,80 €
-
Michael Kenna: Silver Haikus
3 avis
Neuf dès 52,52 €
-
Les Outils Dans Les Balkans Du Moyen Âge À Nos Jours
Occasion dès 50,00 €
-
Communion
Neuf dès 44,71 €
-
Fragmentation And Repair
2 avis
Neuf dès 40,31 €
-
Impact Type
Neuf dès 39,73 €
-
Drive-In Dream Girls
Neuf dès 51,39 €
-
Google Pixel 10 Pro : Pixel 10 Pro
Neuf dès 41,99 €
-
Dc Finest: Hawkman: Wings Across Time
Neuf dès 42,16 €
-
Tusculanes, 2 Tomes (I-V)
Occasion dès 45,80 €
-
Empires In World History
1 avis
Neuf dès 48,88 €
Occasion dès 40,00 €
-
L'italien B2 - Pack Avec 1 Livre (3 Cd Audio)
1 avis
Neuf dès 65,90 €
Occasion dès 191,71 €
-
Ellen Von Unwerth. Heimat
Neuf dès 98,04 €
-
Porsche Racing Cars
Neuf dès 102,94 €
Produits similaires
Présentation Helium Ion Microscopy Format Broché
- Livre Littérature Générale
Résumé :
Helium Ion Microscopy: Principles and Applications describes the theory and discusses the practical details of why scanning microscopes using beams of light ions ? such as the Helium Ion Microscope (HIM) ? are destined to become the imaging tools of choice for the 21st century. Topics covered include the principles, operation, and performance of the Gaseous Field Ion Source (GFIS), and a comparison of the optics of ion and electron beam microscopes including their operating conditions, resolution, and signal-to-noise performance. The physical principles of Ion-Induced Secondary Electron (iSE) generation by ions are discussed, and an extensive database of iSE yields for many elements and compounds as a function of incident ion species and its energy is included. Beam damage and charging are frequently outcomes of ion beam irradiation, and techniques to minimize such problems are presented. In addition to imaging, ions beams can be used for the controlled deposition, or removal, of selected materials with nanometer precision. The techniques and conditions required for nanofabrication are discussed and demonstrated. Finally, the problem of performing chemical microanalysis with ion beams is considered. Low energy ions cannot generate X-ray emissions, so alternative techniques such as Rutherford Backscatter Imaging (RBI) or Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS) are examined.
Sommaire: Chapter 1: Introduction to Helium Ion Microscopy.- Chapter 2: Microscopy with Ions ?- A brief history.- Chapter 3: Operating the Helium Ion Microscope.- Chapter 4: Ion -Solid ?Interactions? and Image Formation.- Chapter 5: Charging and? Damage.- Chapter 6: Microanalysis with the HIM.- Chapter 7: Ion Generated Damage.- Chapter 8: Working with other Ion beams.- Chapter 9: Patterning and Nanofabrication.- Conclusion.- Bibliography.- Appendix: iSE Yields,? and IONiSE? parameters for ?He+ excitation? of Elements and Compounds.- Index.
Détails de conformité du produit
Personne responsable dans l'UE