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Pattern Classification - David G Stork

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        Avis sur Pattern Classification de David G Stork Format Relié  - Livre Technologie

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        Présentation Pattern Classification de David G Stork Format Relié

         - Livre Technologie

        Livre Technologie - David G Stork - 01/11/2000 - Relié - Langue : Anglais

        . .

      • Auteur(s) : David G Stork - Peter E Hart - Richard O Duda
      • Editeur : John Wiley & Sons
      • Langue : Anglais
      • Parution : 01/11/2000
      • Format : Moyen, de 350g à 1kg
      • Nombre de pages : 688.0
      • Nombre de livres : 1
      • Expédition : 1285
      • Dimensions : 26 x 18 x 3.0
      • ISBN : 0471056693



      • Résumé :
        Bayesian Decision Theory.

        Maximum-Likelihood and Bayesian Parameter Estimation.

        Nonparametric Techniques.

        Linear Discriminant Functions.

        Multilayer Neural Networks.

        Stochastic Methods.

        Nonmetric Methods.

        Algorithm-Independent Machine Learning.

        Unsupervised Learning and Clustering.

        Appendix.

        Index....

        Sommaire:
        RICHARD O. DUDA, PhD, is Professor in the Electrical Engineering Department at San Jose State University, San Jose, California.

        PETER E. HART, PhD, is Chief Executive Officer and President of Ricoh Innovations, Inc. in Menlo Park, California.

        DAVID G. STORK, PhD, is Chief Scientist, also at Ricoh Innovations, Inc....

        © Notice établie par DECITRE, libraire

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