Testing Of Interposer-Based 2.5d Integrated Circuits de Chakrabarty, Krishnendu Format Relié

Testing of Interposer-Based 2.5D Integrated Circuits - Chakrabarty, Krishnendu

Format: Relié

Note : 0

Soyez le premier à donner un avis

Filtrer par :

162,77 €

Produit Neuf

Ou 40,69 € /mois

Livraison à 0,01 €
Livré entre le 27 août et le 11 septembre

Voir les modes de livraison

PRO Vendeur favori

4,9/5 sur + de 1 000 ventes

Brand new, In English, Fast shipping from London, UK; Tout neuf, en anglais, expédition rapide depuis Londres, Royaume-Uni;ria9783319547138_dbm

Voir le détail de l'annonce

Nos autres offres

155,19 €

Produit Neuf

Ou 38,80 € /mois

En savoir plus
- Livraison : 3,99 €
- Livré entre le 27 août et le 2 septembre
Voir les modes de livraison
M_plus_L

PRO

4,8/5 sur + de 1 000 ventes

Voir le détail de l'annonce
162,77 €

Produit Neuf

Ou 40,69 € /mois

En savoir plus
- Livraison à 0,01 €
- Livré entre le 27 août et le 11 septembre
Voir les modes de livraison
RiaChristie

PRO

4,9/5 sur + de 1 000 ventes

Contacter le vendeur

Afficher la description de l'annonce

Brand new, In English, Fast shipping from London, UK; Tout neuf, en anglais, expédition rapide depuis Londres, Royaume-Uni;ria9783319547138_dbm

Voir le détail de l'annonce

Vous avez choisi le retrait chez le vendeur à

Payez directement sur Rakuten (CB, PayPal, 4xCB...)
Récupérez le produit directement chez le vendeur
Rakuten vous rembourse en cas de problème

Terminer ma commande

Gratuit et sans engagement

Félicitations !

Nous sommes heureux de vous compter parmi nos membres du Club Rakuten !

TROUVER UN MAGASIN

Adresse

Retour

Horaires

Note :

Avis sur Testing Of Interposer - Based 2.5d Integrated Circuits de Chakrabarty, Krishnendu Format Relié - Livre Littérature Générale

Note : 0 0 avis sur Testing Of Interposer - Based 2.5d Integrated Circuits de Chakrabarty, Krishnendu Format Relié - Livre Littérature Générale

Donnez votre avis

Donnez votre avis sur ce produit

Votre note * : 1/5 2/5 3/5 4/5 5/5 Veuillez donner une note au produit

Le titre de votre avis* : Saisissez un titre

Quelques conseils :

Donnez le ton de votre avis, résumez-le en quelques mots qui apparaîtront comme le titre de votre avis.

Votre avis* : (40 caractères minimum) Saisissez un avis

Quelques conseils :

N'hésitez pas à mettre en avant les caractéristiques de ce produit, n'oubliez pas de mentionner ses avantages et/ou ses défauts éventuels. Décrivez précisément, argumentez, soyez convaincant !

Annuler

Les avis publiés font l'objet d'un contrôle automatisé de Rakuten.

Produits similaires

Présentation Testing Of Interposer - Based 2.5d Integrated Circuits de Chakrabarty, Krishnendu Format Relié
- Livre Littérature Générale

Livre Littérature Générale - Chakrabarty, Krishnendu - 01/03/2017 - Relié - Langue : Anglais

Auteur(s) : Chakrabarty, Krishnendu - Wang, Ran

Editeur : Springer International Publishing Ag

Langue : Anglais

Parution : 01/03/2017

Format : Moyen, de 350g à 1kg

Nombre de pages : 196

Expédition : 465

Dimensions : 24.1 x 16.0 x 1.7

ISBN : 3319547135

Résumé :
This book provides readers with an insightful guide to the design, testing and optimization of 2.5D integrated circuits. The authors describe a set of design-for-test methods to address various challenges posed by the new generation of 2.5D ICs, including pre-bond testing of the silicon interposer, at-speed interconnect testing, built-in self-test architecture, extest scheduling, and a programmable method for low-power scan shift in SoC dies. This book covers many testing techniques that have already been used in mainstream semiconductor companies. Readers will benefit from an in-depth look at test-technology solutions that are needed to make 2.5D ICs a reality and commercially viable....

Biographie:
Ran Wang is a Senior DFT Engineer at NVIDIA in Santa Clara, CA. Dr. Wang received the B. Sci. degree from Zhejiang University, Hangzhou, China, in 2012, and the M.S.E and Ph.D degree from the Department of Electrical and Computer Engineering, Duke University in 2014 and 2016. His current research interests include testing and design-for-testability of 2.5D ICs and 3D ICs. Krishnendu Chakrabarty is the William H. Younger Distinguished Professor of Engineering in the Department of Electrical and Computer Engineering at Duke University in Durham, NC. He has been at Duke University since 1998. His current research is focused on: testing and design-for-testability of integrated circuits (especially 3D and multicore chips)...

Sommaire:

Introduction.- Pre-Bond Testing of the Silicon Interposer.- Post-Bond Scan-based Testing of Interposer Interconnects.- Test Architecture and Test-Path Scheduling.- Built-In Self-Test.- ExTest Scheduling and Optimization.- A Programmable Method for Low-Power Scan Shift in SoC Dies.- Conclusions.-

Détails de conformité du produit

Consulter les détails de conformité de ce produit (

Personne responsable dans l'UE

)

Testing of Interposer-Based 2.5D Integrated Circuits - Chakrabarty, Krishnendu

Avis sur Testing Of Interposer - Based 2.5d Integrated Circuits de Chakrabarty, Krishnendu Format Relié - Livre Littérature Générale

Présentation Testing Of Interposer - Based 2.5d Integrated Circuits de Chakrabarty, Krishnendu Format Relié - Livre Littérature Générale

Présentation Testing Of Interposer - Based 2.5d Integrated Circuits de Chakrabarty, Krishnendu Format Relié
- Livre Littérature Générale