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Quantitative Data Processing in Scanning Probe Microscopy: Spm Applications for Nanometrology - Petr Klapetek

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        Présentation Quantitative Data Processing In Scanning Probe Microscopy: Spm Applications For Nanometrology de Klapetek Format...

         - Livre

        Livre - Petr Klapetek - 01/12/2012 - Broché - Langue : Anglais

        . .

      • Auteur(s) : Petr Klapetek
      • Editeur : William Andrew Inc
      • Langue : Anglais
      • Parution : 01/12/2012
      • Format : Moyen, de 350g à 1kg
      • Nombre de pages : 336
      • Expédition : 703
      • Dimensions : 23.9 x 19.3 x 2.5
      • ISBN : 1455730580



      • Résumé :
        Accurate measurement at the nano-scale - nanometrology - is a critical tool for advanced nanotechnology applications, in which exact quantities and engineering precision are beyond the capabilities of traditional measuring techniques and instruments. Despite tremendous advances in SPM over the last 20 years, its potential as a quantitative measurement tool has not been fully realized due to challenges such as the complexity of tip/sample interaction. In this book, Petr Klapetek uses the latest research to unlock SPM as a toolkit for nanometrology in fields as diverse as nanotechnology, surface physics, materials engineering, thin film optics, and life sciences. Klapetek's considerable experience of quantitative data processing, using software tools, enables him to not only explain the microscopy techniques but also to demystify the analysis and interpretation of the data collected.

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