Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces - Chia-Wei Chen

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Présentation Retroreflex Ellipsometry For Nonplanar Surfaces de Chia - Wei Chen Format Broché
- Livre

Livre - Chia-Wei Chen - 01/04/2025 - Broché - Langue : Anglais

Auteur(s) : Chia-Wei Chen

Editeur : Karlsruher Institut Für Technologie (Kit)

Langue : Anglais

Parution : 01/04/2025

Format : Moyen, de 350g à 1kg

Nombre de pages : 210.0

ISBN : 9783731514022

Résumé :
Retroreflex ellipsometry addresses the geometric restrictions of conventional ellipsometry by using a retroreflective sheet, which returns the light beam from the sample on the same beam path. Simulation and experiments of retroreflex ellipsometry in two- and three-phase systems have been demonstrated based on the proposed concepts, which have shown the capabilities of ellipsometric measurements on nonplanar surfaces....

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Retroreflex Ellipsometry for Nonplanar Surfaces - Chia-Wei Chen

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