Advanced Materials Characterization de Kumar, Ch Sateesh Format Broché

Advanced Materials Characterization - Kumar, Ch Sateesh

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Livre Technologie - Kumar, Ch Sateesh - 01/11/2024 - Broché - Langue : Anglais

Auteur(s) : Kumar, Ch Sateesh - Singh, M. Muralidhar - Krishna, Ram

Editeur : Crc Press

Langue : Anglais

Parution : 01/11/2024

Format : Moyen, de 350g à 1kg

Nombre de pages : 144.0

Expédition : 390

ISBN : 9781032375113

Biographie:
1.Introduction to material characterization?2. X-Ray Diffraction (XRD) 3. Nanomechanical system 4. X-Ray photo spectroscopy (XPS) 5. Scanning electron microscope (SEM) 6. Field emission scanning electron microscope (FESEM) 7. Transmission electron microscope (TEM) 8. Atomic Force Microscope (AFM) 9. Near-field scanning optical microscope Raman 10. Optical characterization instruments 11. Synchrotron techniques 12. Other advanced instruments used for characterization of functionally graded materials...

Sommaire:
The book covers various methods of characterization of advanced materials commonly used in engineering including understanding of the working principle and applicability of devices. Major instruments covered include X-Ray Diffraction, NSOM Raman, X-Ray Photo Spectroscopy, UV-VIS- NIR Spectrosphotometer, FTIR Spectroscopy, and so forth....

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