On-Line Testing for VLSI -

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Présentation On - Line Testing For Vlsi Format Relié
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Livre Littérature Générale - 01/04/1998 - Relié - Langue : Anglais

Editeur : Springer Us, New York, N.Y.

Langue : Anglais

Parution : 01/04/1998

Format : Moyen, de 350g à 1kg

Nombre de pages : 168

Expédition : 525

Dimensions : 26.0 x 18.3 x 1.4

ISBN : 9780792381327

Sommaire:
1: Introduction.- 1.1. On-Line Testing for VLSI-A Compendium of Approaches.- 2: Self-Checking Design.- 2.1. On-Line Fault Monitoring.- 2.2. Efficient Totally Self-Checking Shifter Design.- 2.3. A New Design Method for Self-Checking Unidirectional Combinational Circuits.- 2.4. Concurrent Delay Testing in Totally Self-Checking Systems.- 3: Self Checking Checkers.- 3.1. Design of Self-Testing Checkers for m-out-of-n Codes Using Parallel Counters.- 3.2. Self-Testing Embedded Two-Rail Checkers.- 4: On-Line Monitoring of Reliability Indicators.- 4.1. Thermal Monitoring of Self-Checking Systems.- 4.2. Integrated Temperature Sensors for On-Line Thermal Monitoring of Microelectronics Structures.- 4.3. Clocked Dosimeter Compatible with Digital CMOS Technology.- 5: Built-In Self-Test.- 5.1. Scalable Test Generators for High-Speed Datapath Circuits.- 5.2. Mixed-Mode BIST Using Embedded Processors.- 5.3. A BIST Scheme for Non-Volatile Memories.- 6: Fault Tolerant Systems.- 6.1. On-Line Fault Resilience Through Gracefully Degradable ASICs.- 6.2. Delivering Dependable Telecommunication Services Using Off-the-Shelf System Components.

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