Appliquer Le Modèle De Rasch - Défis Et Pistes De Solution -
- Collection: Mesure Et Évaluation
- Format: Grand format Voir le descriptif
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Les meilleurs avis sur Appliquer Le Modèle De Rasch - Défis Et Pistes De Solution de Format Grand format < - Livre Psychologie - Psychanalyse
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Présentation Appliquer Le Modèle De Rasch - Défis Et Pistes De Solution de Format Grand format
- Livre Psychologie - Psychanalyse
Résumé :
Qu'il s'agisse de sondages, d'échelles de satisfaction ou d'examens, les instruments de mesure font partie de nos vies personnelles et professionnelles. La validation des propriétés psychométriques de ces instruments est nécessaire à l'obtention d'une information de bonne qualité. Le présent ouvrage s'intéresse à la modélisation de Rasch comme outil permettant de réaliser cette validation psychométrique et de documenter la qualité des instruments de mesure. Les 11 chapitres qui le composent sont le fruit du travail d'experts et d'expertes de la mesure partageant l'intérêt de produire une ressource en français sur le sujet.
Biographie:
Eric Dionne est professeur titulaire à la Faculté d'éducation et à la Faculté de médecine de l'Université d'Ottawa. Il est titulaire de la Chaire de recherche en éducation médicale de l'Institut du savoir de l'Hôpital Montfort. Il s'intéresse à la conception d'instruments de mesure en éducation et en éducation médicale. Sébastien Béland est professeur agrégé à la Faculté des sciences de l'éducation de l'Université de Montréal. Ses recherches portent sur les méthodes quantitatives (et son enseignement) en sciences sociales, l'intégrité universitaire et l'évaluation des apprentissages dans les programmes en arts au postsecondaire. Il est membre du Groupe de recherche interuniversitaire sur l'évaluation et la mesure en éducation à l'aide des technologies de l'information et des communications (GRIEMEtic), de l'Observatoire sur les pratiques innovantes d'évaluation des apprentissages (OPIEVA) et du Laboratoire interdisciplinaire de recherche sur l'enseignement supérieur (LIRES).
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